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易高涂層測厚儀采用的技術(shù)特點
  • 發(fā)布日期:2019-03-20      瀏覽次數(shù):650
    •    到現(xiàn)今為止,市面上易高涂層測厚儀無損檢測技術(shù)已成為加工工業(yè)為用戶進行成品質(zhì)量檢測和保證產(chǎn)品達到標準的*手段。測厚儀大致有以下三種:應用磁性測量法、渦流測量法以及超聲波測量法的三類測厚儀。
       
        易高涂層測厚儀適用于各種板材和各種加工零件的測量,也可以對生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器在使用過程中受腐蝕后的減薄程度進行監(jiān)測。
       
        磁性測量原理測厚儀又可分為磁吸力原理測厚儀和磁感應原理測厚儀兩種,渦流測量原理測厚儀則只有電渦流測厚儀一種。
       
        磁吸力原理測厚儀是利用磁鐵測頭與導磁的鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系來測量覆層的厚度的,這個距離就是覆層的厚度,所以只要覆層與基材的導磁率之差足夠大,就可以進行測量。
       
        磁感應原理測厚儀是利用測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵基材的磁通大小來測定覆層厚度的,覆層愈厚,磁通愈小。當軟鐵芯上繞著線圈的測頭被放在被測物上后,儀器自動輸出測試電流,磁通的大小影響到感應電動勢的大小,儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。
       
        易高涂層測厚儀是利用高頻交流電在作為測頭的線圈中產(chǎn)生一個電磁場,將探頭靠近導電的金屬體時,就在金屬材料中形成渦流,這個渦流隨著與金屬體的距離減小而增大,并且會影響探頭線圈的磁通,此反饋作用量就是表示探頭與基體金屬之間間距大小的一個量值。
       
        電渦流法測頭用在非鐵磁金屬基體上測量覆層厚度,所以通常我們稱該測頭為非磁性測頭。與磁性測量原理比較,它們的電原理基本一樣,主要區(qū)別是測頭不同,測試電流的頻率大小不同,信號大小、標度關(guān)系不同。在近兩年的測厚儀中,通過不斷改進測頭結(jié)構(gòu),再配合微電腦技術(shù),由自動識別不同測頭來調(diào)用不同的控制程序,分別輸出不同的測試電流和改變標度變換軟件,終于使兩種不同類型的測頭接在同一臺測厚儀上,基于同一思想,可配接達10種測頭的測厚儀也應運而生。
       
        易高涂層測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的,當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,脈沖被反射回探頭,通過測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。
       
        雖然幾種測厚儀在校準中測量點和標準材料的選擇上有很多不同,但在操作中都有一些相同的需要注意的地方,如每種測厚儀對基體的表面曲率和小厚度都有一個下限的規(guī)定,在實際校準中應選擇尺寸合理的基體進行操作;測量中測頭的取向和壓力也會對結(jié)果有影響,要保持測頭與基體的垂直、壓力恒定并盡可能小;另外,校準覆層測厚儀時還要注意外界磁場和基體剩磁的干擾,校準超聲波測厚儀時要注意溫度變化和耦合劑粘度的影響。
       
        易高涂層測厚儀主要是利用電磁場在不同厚度的介質(zhì)上的磁場強度的改變,而計算出其厚度值。因此,任何對磁場強度的影響都會直接導致測量誤差,具體情況有以下幾種:
       
        1、被測材料自身含磁
       
        有些材料在加工過程中或一定工藝要求,使被測材料內(nèi)有剩余磁場。由于其分布不均,所以導致的測量誤差也不一致,會出現(xiàn)在同一工件上某些部位的測量值突然變大或變小。
       
        2、被測材料結(jié)構(gòu)不同,形狀不同
       
        在不同結(jié)構(gòu)的工件上,磁場分布會隨著結(jié)構(gòu)、形狀不同而不同,會產(chǎn)生測量誤差。
       
        3、同一材料的不同部位,也可能產(chǎn)生磁場的變化,如材料的邊緣與中間區(qū)域,其磁場分布不一樣,會產(chǎn)生測量誤差。
       
        4、被測材料的性質(zhì)不同,其磁通量就會不同,這也是產(chǎn)生誤差原因之一。
       
        5、材料的大小、厚度不同,也可以導致測量誤差。
       
        6、易高涂層測厚儀被測材料表面不夠光滑,也是產(chǎn)生誤差的原因。